操作方法
HRMS-800高温半导体材料电阻率测量系统（高温四探针测量系统）。主要是针对半导体薄膜和薄片材料，测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃ITO和其他导电薄膜的方块电阻。 可获得参数值：电阻、电阻率、方块电阻、电导率
HRMS-900高温绝缘材料电阻率测量系统。主要是针对绝缘材料电学性能测量，可以测量高温、真空、气氛条件下样品的电阻和体电阻率、漏电流等随温度、时间变化的曲线，可以实现常温，变温，恒温条件的ρ-T，I-V，I-t，R-t等测量。 可获得参数值：电阻、电阻率、体电阻率
HRMS-1000高温导电材料电阻率测量系统。主要用于导电材料导电性能的评估和测试，可以在高温、真空、气氛条件下测量导电材料的电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。 可获得参数值：电阻、电阻率、电导率
所以，我们在选择高温电阻率测量系统的时候要结合我们需要测量的材料性质，需要的温度范围，需要实现的测量条件等等方面进行综合考虑，来选择适用于实验室的高温电阻率测量系统。